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載流子擴(kuò)散長度測量系統(tǒng)采用的SSPG技術(shù)可用于測量納米~微米范圍的載流子擴(kuò)散長度LD，有機(jī)薄膜材料（Bulk-Hetero-Junction有機(jī)材料和鈣鈦礦材料）的測量已由LGEP成功驗證，同時被驗證的包括硅基薄膜材料（例如：非晶硅、微晶硅和多晶硅）。
更新時間：2024-07-04
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